A63.7069 Volframo gijų nuskaitymo elektronų mikroskopas, standartinis. SEM, 6x ~ 600000x

A63.7069 Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, Std. SEM, 6x~600000x Featured Image

Trumpas aprašymas:

6x ~ 60000x volframo gijų nuskaitymo elektronų mikroskopas, standartinis. SEM
Atnaujinamas „LaB6“, rentgeno detektorius, EBSD, CL, WDS, dengimo mašina ir kt.
Daugialypė modifikacija EBL, STM, AFTM, „Heatign Stage“, „Cryo Stage“, „Tempimo stadija“, „SEM +“ lazeris ir kt.
Automatinis kalibravimas, automatinis gedimų aptikimas, mažos priežiūros ir remonto išlaidos
Lengva ir draugiška sąsaja, viską valdo pelė „Windows“ sistemoje
Minimalus Užsakymo Kiekis:1

Prekės informacija

Prekės žymos

A63.7069_01.jpg

Prekės aprašymas

A63.7069 Volframo gija Skenuojantis elektroninis mikroskopas, Šv. SEM
Rezoliucija		3nm @ 30KV (SE); 6nm @ 30KV (GSE)
Padidinimas		Neigiamas padidinimas: 6x ~ 300000x; Ekrano didinimas: 12x ~ 600000x
Elektronų ginklas		Volframo šildomo katodo iš anksto sutelkta volframo gijų kasetė
Įsibėgėjanti įtampa		0 ~ 30KV
Lęšių sistema		Trijų lygių elektromagnetinis objektyvas (kūginis objektyvas)
Objektyvi diafragma		Molibdeno diafragmos reguliuojama išorinė vakuuminė sistema
Pavyzdžio etapas		Penkių ašių etapas
Kelionių diapazonas	X (automatinis)	0 ~ 80 mm
	Y (automatinis)	0 ~ 60mm
	Z (rankinis)	0 ~ 50mm
	R (rankinis)	360º
	T (rankinis)	-5º ~ 90º
Maksimalus mėginio skersmuo		175mm
Detektorius		SE: aukšto vakuumo antrinių elektronų detektorius (su detektoriaus apsauga)
		GSE: puslaidininkinis keturių segmentų atgalinio sklaidos detektorius
		CCD
Modifikacija		Etapų atnaujinimas; EBL; STM; AFM; Šildymo etapas; Krio etapas; Tempimo etapas; Mikro-nano manipuliatorius; SEM + dengimo mašina; SEM + lazeris
Priedai		CCD, „LaB6“, rentgeno detektorius (EDS), EBSD, CL, WDS, dengimo mašina
Vakuuminė sistema		„Turbo“ molekuliniai siurbliai; rotacinis siurblys
Elektronų pluošto srovė		10pA ~ 0.1μA
PC		Individualus „Dell“ darbo stotis

Privalumas ir bylos

Skenuojančioji elektroninė mikroskopija (sem) yra tinkama metalų, keramikos, puslaidininkių, mineralų, biologijos, polimerų, kompozitų ir nanometrinės vienmatės, dvimatės ir trimatės medžiagos (antrinio elektroninio vaizdo, atgalinis išsklaidytas elektronų vaizdas). Jis gali būti naudojamas analizuojant mikroregiono taško, linijos ir paviršiaus komponentus. Jis plačiai naudojamas naftos, geologijos, mineralų srityje, elektronikoje, puslaidininkių lauke, medicinoje, biologijos srityje, chemijos pramonėje, polimerinių medžiagų srityje, visuomenės saugumo, žemės ūkio, miškininkystės ir kitų sričių baudžiamasis tyrimas.

Kompanijos informacija

OPTO-EDU, kaip vienas profesionaliausių mikroskopų gamintojų ir tiekėjų Kinijoje, mūsų sub-prekės ženklo CNOPTEC serijos aukščiausios klasės biologiniai, laboratoriniai, poliarizaciniai, metalurgijos, fluoresceno mikroskopai, CNCOMPARISON serijos teismo mikroskopai, A63 serijos SEM mikroskopai ir .49 serijos skaitmeniniai fotoaparatai, skystųjų kristalų fotoaparatai yra labai populiarūs pasaulio rinkoje.