|
A13.1104 Metalurgijos mikroskopo specifikacija
|
|
Galva
|
Trikampis be kompensacijos, 30 laipsnių nuolydis, 50–75 mm
|
| Okuliaras |
Platus laukas WF10X / 25mm |
| Platus laukas WF10X / 20mm su kryželiu 0,1mm |
| Begalybė Plano tikslai |
Begalybės plano tikslai: Šviesus ir tamsus laukas su dideliu darbo atstumu |
|
Ilgas darbo atstumas 29,4 mm PL L5X / 0.1BD
|
|
Ilgas darbo atstumas 16mm PL L10X / 0,25 BD
|
|
Ilgas darbo atstumas 10,6 mm PL L 20X / 0,40 BD
|
|
Ilgas darbo atstumas 5,4 mm PL L40X / 0,60 (spyruoklė) BD
|
|
„Flashboard“ filtras
|
Mėlynas filtras
|
| Žalias filtras |
|
Neutralus filtras
|
|
Fokusavimo sistema
|
Koaksialinis šiurkštus ir tikslus fokusavimas naudojant stovo ir krumpliaračio mechanizmą; Didelio fokusavimo skalės vertė 0,002 mm.
|
|
Antgalis
|
Keturvietis su DIC Jack
|
| Etapas |
Dvigubas sluoksnis mechaninis (dydis189mmX160mm, judėjimo diapazonas: 80mmX50mm) |
|
Kondensatorius
|
ABBE NA1.25Kondensatorius su rainelės diafragma ir filtru
|
| Apšvietimas |
Transmisijos apšvietimas |
| EPI apšvietimas: Apertrue rainelės diafragma ir lauko rainelės diafragma |
| Šviesos šaltinis |
12V / 50W, kintamosios srovės 85V-230V halogeninė lemputė, reguliuojamas ryškumas |
| Poliarizuojantis prietaisas |
Analizatorius, pasukamas 360 °, „Polarize & Analyzer“ gali būti perkeliamas į / iš optinio kelio |
| Tikrinimo įrankis |
0,01 mm mikrometras |
